− 依頼試験DB − 
一覧表示 分類表示 検索画面へ


【分類表示】  全てを開く  全てを閉じる

大分類中分類試験名称単位料金(円)対応機関
詳細を表示:分析分析
詳細を隠す:測定測定
詳細を表示:機械的測定機械的測定
詳細を表示:電気的測定電気的測定
詳細を隠す:光学的測定光学的測定
走査型電子顕微鏡観察(分析装置を使用しない場合)1試料3視野まで5,560下越、県央、中越、上越、素材
走査型電子顕微鏡観察(分析装置を使用する場合)1試料3視野まで7,990下越、県央、中越、素材
金属顕微鏡観察1断面3視野まで6,130下越、県央、中越、上越
実体顕微鏡観察又はデジタルマイクロスコープ観察1試料3視野まで2,460下越、県央、加茂、中越、上越、素材
走査型プローブ顕微鏡観察1試料3視野まで6,950下越
レーザー顕微鏡観察1試料3視野まで3,800県央
可視分光分析試験又は紫外分光分析試験(分光分析試験)1試料2,910下越、中越、素材
可視分光分析試験又は紫外分光分析試験(分光測色試験)1試料5,590下越、素材
色差計による測色又は色差試験1試料2,470下越、加茂、上越、素材
光沢試験1試料2,470下越
詳細を表示:熱的測定熱的測定
詳細を表示:試験試験
詳細を表示:計算及び解析計算及び解析
詳細を表示:企画及び設計企画及び設計
詳細を表示:情報の提供情報の提供
詳細を表示:カラー複写カラー複写
詳細を表示:成績書の副本成績書の副本